上海上分紫外可见分光光度计UV765CRT
| 参数名称 | 参数值 |
| 波长范围 | 190-1100nm |
| 波长允许最大误差 | ±0.5nm |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 波长重复性 | ≤0.2nm |
| 杂散光 | ≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定） |
| 透射比范围 | 0.0%（T）～200.0%（T） |
| 吸光度范围 | -0.301（A）～3.00(A) |
| 透射比允许最大误差 | ±0.3%（T） |
| 漂移 | ≤0.001A/h |
| 透射比重复性 | ≤0.15%（T） |
| 基线平直度 | ±0.002A |
| 噪声 | 100%噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T) |
特 点
■ 比例双光束，保证极好的稳定性
■ 超低的杂散光，优异的波长精确度
■ 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作
■ 长寿命石英涂膜光学部件
■ 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描
■ 显示和储存各种数据和图谱，支持专用打印机
■ 自动校正功能，确保每次测量数据准确
■ 自动寻找灯源最佳位置，独立灯室，灯源更换简单方便
■ 大样品室，自动8联样品架
■ 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能
■ 技术指标同UV765，带反控软件
公司网站：http://contract.invoiceconfess.cn
订单邮箱：sales@shhk.com.cn（推荐）
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